進(jìn)口自動(dòng)清潔度顆粒分析儀介紹

組件與零部件的清潔對于生產(chǎn)工藝十分重要。對于開發(fā)、制造、批量生產(chǎn)以及成品質(zhì)量控制的所有流程，滿足對常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計(jì)數(shù)、分析和分類的高標(biāo)準(zhǔn)要求是非常重要的。

  清潔度分析系統(tǒng)專為滿足現(xiàn)代工業(yè)及國家和國際標(biāo)準(zhǔn)的清潔度要求而特別設(shè)計(jì)。

本系統(tǒng)滿足ISO16232/VDA19等國際清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，設(shè)計(jì)制造嚴(yán)格遵循國際標(biāo)準(zhǔn)。

采用核心智能圖像拼接技術(shù)對標(biāo)準(zhǔn)濾膜進(jìn)行智能掃描，無縫拼接，全局預(yù)覽圖像，超越進(jìn)口設(shè)備。

一鍵掃描即可設(shè)別全部顆粒（金屬、非金屬、纖維），分析結(jié)果可示化。按照標(biāo)準(zhǔn)等級區(qū)間劃分所有顆粒。

系統(tǒng)采用連續(xù)變倍體式顯微鏡方案，VDA19/ISO16232清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn)推薦方案，可獲得更大景深，更快檢測速度。掃描分析一張濾膜僅需2-3min。

自動(dòng)偏振光技術(shù)，自動(dòng)光源技術(shù)，自動(dòng)化程度高。

分析結(jié)果MAP圖儲(chǔ)存,數(shù)據(jù)保存指1定根目錄，可任意調(diào)用及從新分析。

SQL數(shù)據(jù)庫統(tǒng)計(jì)，可選擇任意時(shí)間段查看并調(diào)出蕞大金屬顆粒、任意顆粒尺寸范圍數(shù)據(jù)，并以趨勢圖表述。

本系統(tǒng)軟硬件性能經(jīng)過專業(yè)團(tuán)隊(duì)開發(fā)設(shè)計(jì)，具備國內(nèi)領(lǐng)1先水平，實(shí)用性強(qiáng)，性能、數(shù)據(jù)超越進(jìn)口設(shè)備，滿足不同客戶對標(biāo)使用。

進(jìn)口自動(dòng)清潔度顆粒分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)

> 一鍵掃描，一鍵出報(bào)告

> 軟件自動(dòng)控制偏振光切換

> 標(biāo)準(zhǔn)自定義加入:內(nèi)置ISO16232/VDA19/ISO4406/ISO4407/NAS1638標(biāo)準(zhǔn)，用戶可以根據(jù)需要加入不同的分析標(biāo)準(zhǔn)，或選擇已有標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析。軟件支持現(xiàn)行多種標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析。金屬、非金屬、纖維區(qū)分，按照ISO16232/VDA19等國際標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)分析。

> 自動(dòng)檢測分辨出微粒類型（金屬、非金屬、纖維）

> 評價(jià)參數(shù)（長度、寬帶、面積、纖維蕞大長度等）

> 按照標(biāo)準(zhǔn)ISO 16232 /VDA19計(jì)算工件清潔度代碼(CCC)

> 有效微粒處理（例如重疊微粒）,掃描結(jié)果可手動(dòng)修改，可切分或關(guān)聯(lián)任意形狀的顆粒。

> 自動(dòng)識(shí)別清晰度，實(shí)時(shí)顯示，保證測試精度

> 自動(dòng)掃描，無縫拼接技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)每個(gè)顆粒定位回看，保證顆粒無誤判

> 全圖預(yù)覽

> 項(xiàng)目管理：MAP全圖，顆粒數(shù)據(jù)儲(chǔ)存，隨時(shí)調(diào)用，可重新分析及變更標(biāo)準(zhǔn)分析，SQL數(shù)據(jù)庫管理，按任意時(shí)間段圖形化顯示顆粒數(shù)量及蕞大金屬顆粒

> 內(nèi)置零部件/油品/鋰電各種標(biāo)準(zhǔn)模塊。