徠卡Ivesta3自動(dòng)清潔度分析儀定制服務(wù)

對(duì)不同尺寸的標(biāo)準(zhǔn)濾紙進(jìn)行高精度掃描分析，并結(jié)合偏光光闌技術(shù)對(duì)顆粒進(jìn)行反光和非反光的區(qū)分，以對(duì)金屬與非金屬顆粒的判定提供最直接的參考數(shù)據(jù)和影像。同時(shí)可依據(jù)不同長(zhǎng)寬比的設(shè)定對(duì)纖維與非纖維進(jìn)行精確分類，對(duì)于粘結(jié)顆粒可在實(shí)際視場(chǎng)下進(jìn)行確認(rèn)并采用數(shù)碼分割法進(jìn)行分割，以確保實(shí)際判斷的準(zhǔn)確性。

一、Ivesta3自動(dòng)清潔度分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

全自動(dòng)運(yùn)行掃描，無(wú)縫拼接技術(shù)

經(jīng)過(guò)色差校正的高分辨率光學(xué)系統(tǒng)

采用像素解決方案

電腦控制和操作桿控制XY電動(dòng)平臺(tái)

優(yōu)化色溫恒定LED光纖照明

簡(jiǎn)單而快捷的操作界面

掃描過(guò)程中的實(shí)時(shí)結(jié)果

大的可靠性和重復(fù)性

自動(dòng)計(jì)算金屬顆粒，非金屬顆粒，纖維顆粒

二.Ivesta3自動(dòng)清潔度分析儀系統(tǒng)性能

圖像捕獲:具有高分辨率實(shí)時(shí)彩色圖像捕獲能力，可以實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)捕獲圖像序列，并自動(dòng)拼接成一張完整的濾膜全貌圖片，顆粒無(wú)明顯錯(cuò)位，保證分析精度。

可以縮小放大，實(shí)時(shí)觀察大圖中任意地方的局部放大圖，也可以全圖觀察。可回看任何一個(gè)顆粒。

一鍵流程化設(shè)計(jì)。

圖像標(biāo)定:根據(jù)光學(xué)放大倍數(shù)定標(biāo)圖像，為圖像測(cè)量提供測(cè)量基準(zhǔn)。

動(dòng)態(tài)設(shè)定分析閾值:為以后全圖分析提供提取目標(biāo)的依據(jù)。

標(biāo)準(zhǔn)自定義加入:內(nèi)置ISO16232/VDA19標(biāo)準(zhǔn)，用戶可以根據(jù)需要加入不同的分析標(biāo)準(zhǔn)，或選擇已有標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析。軟件支持現(xiàn)行多種標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析。

金屬、非金屬、纖維區(qū)分，按照ISO16232/VDA19等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)分析。

自動(dòng)檢測(cè)分辨出微粒類型(金屬、非金屬、纖維)

評(píng)價(jià)參數(shù)(長(zhǎng)度、寬帶、面積、纖維長(zhǎng)度)

根據(jù)不同的測(cè)量任務(wù)分別來(lái)設(shè)置和儲(chǔ)存相應(yīng)的配置

方便導(dǎo)出所有分析數(shù)據(jù)到EXCEL至數(shù)據(jù)庫(kù)

按照標(biāo)準(zhǔn)ISO 16232 計(jì)算工件清潔度代碼(CCC)

有效微粒處理(例如重疊微粒)

汽車清潔度顆粒檢測(cè)儀是精密設(shè)計(jì)的零部件清潔度分析系統(tǒng)，對(duì)過(guò)濾紙的殘留粒子進(jìn)行檢測(cè)，重要的是能對(duì)工件的清潔程度進(jìn)行可靠和再現(xiàn)性的評(píng)估。

本清潔度分析系統(tǒng)采用10倍像素解決方案，確保分析精度。

全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)將顆粒分為以下三類：

金屬顆粒：通常是關(guān)注的，并且是關(guān)鍵的顆粒。

非金屬顆粒，不含纖維：這些顆粒和金屬顆粒一樣是關(guān)鍵性污染物顆粒。

纖維：這些顆粒在測(cè)試的準(zhǔn)備和操作過(guò)程中是無(wú)法避免的。因此，即使有時(shí)候纖 維是濾膜上蕞大的顆粒，其關(guān)注度也是相對(duì)不高。

將顆粒預(yù)分為三類,可減少手動(dòng)操作的工作量,并且蕞大限度的關(guān)注所有與實(shí)際操作相關(guān)的顆粒。

通過(guò)偏振鏡機(jī)構(gòu)對(duì)濾膜進(jìn)行二次掃描，并實(shí)現(xiàn)對(duì)濾膜上金屬和非金屬顆粒 的統(tǒng)計(jì)和鑒別。 針對(duì)塑料、玻纖等同樣會(huì)產(chǎn)生反射的物體，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)將其與金屬顆粒區(qū)分開(kāi)，此方法有效的回避了被誤判為金屬顆粒的風(fēng)險(xiǎn)。

備注：

本設(shè)備設(shè)計(jì)參考理論依據(jù)

1.ISO 16232-7/VDA19對(duì)顆粒屬性定義

2、ISO 16232-7/VDA19分辨率定義

3、根據(jù)VDA 19.1理論：弱化/避開(kāi)小顆粒測(cè)試是近來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)，只有少數(shù)特殊案例，其部件間隙容差非常小，會(huì)要求分析長(zhǎng)度在5～50μm的顆粒，在實(shí)際常規(guī)案例中，長(zhǎng)度在5～50μm的顆粒是沒(méi)有相關(guān)性的，而且對(duì)這么小的顆粒進(jìn)行分析工作量十分巨大，甚至?xí)蔀橐环N工作阻礙。因此，現(xiàn)在已將大于50μm的顆粒分析作為標(biāo)準(zhǔn)要求。